Conception d’algorithmes pour l’apprentissage de structure de réseaux Bayésiens dans les gros volumes de données. Application au contrôle de processus dans l’industrie des semi-conducteurs, visant à la détection de dérive des équipements en ligne susceptible d’influer sur la durée du cycle, la performance et les coûts de fabrication. Ce travail a
lieu dans le cadre du projet Européen INTEGRATE (Integrated Solutions for Agile Manufacturing in High-mix Semiconductor Fabs)initié par le regroupement ENIAC (European Nanoelectronics Initiative Advisory Council) et financé par l'initiative Européenne FP7 (Seventh Framework Programme for research).